Il corso è articolato in tre moduli:
ll primo modulo tratta degli aspetto fondamentali della cristallografia: elementi di simmetria, operatori di simmetria, sistemi e classi cristalline, gruppi spaziali, teoria cinematica della diffazione di raggi X.
Nel secondo modulo verranno introdotte le tecniche di affinamento strutturale a partire dai dati di diffrazione a raggi X di polveri. In particolare verrà dato ampio spazio al Metodo di Rietveld utile per la determinazione dei principali parametri strutturali e microstrutturali dei materiali e per la quantificazione delle componenti cristalline e amorfe.
Nel terzo modulo verranno introdotte alcune metodiche elettrochimiche di caratterizzazione dei materiali, con particolare enfasi a lavori di letteratura che mostrino in pratica la applicazioni e i risultati attesi.
- Teacher: MARCELLA BINI
- Teacher: PAOLO GHIGNA
- Teacher: LORENZO MALAVASI